HC-200涂層測(cè)厚儀u可設(shè)置限界:對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警;并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析;u具有打印功能:可打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖;
更新時(shí)間:2024-11-18
HC-200涂層測(cè)厚儀
一、功能用途 | |
HC200數(shù)字式涂層測(cè)厚儀是磁性、渦流一體的便攜式涂層測(cè)厚儀,它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)*的儀器。 |
二、主要特點(diǎn) |
u采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,既可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚; |
u具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE); |
u具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(App1); |
u設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、大值(MAX)、小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV); |
u可采用兩種方法對(duì)其進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正; |
u具有存貯功能:可存貯500個(gè)測(cè)量值; |
u具有刪除功能:對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,可也刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測(cè)量; |
u可設(shè)置限界:對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警;并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析; |
u具有打印功能:可打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖; |
u具有與PC機(jī)通訊的同能:可將測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值傳輸至PC機(jī),以便對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步處理; |
u具有電源欠壓指示功能; |
u操作工程有蜂鳴聲提示; |
u具有錯(cuò)誤提示功能,通過屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示; |
u設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式; |
三、規(guī)格參數(shù) |
測(cè)頭類型 | F | N | |
工作原理 | 磁感應(yīng) | 渦流 | |
測(cè)量范圍(Hm) | 0~1250 | 0~1250 銅上鍍鉻(0~40) | |
低限分辨率 | 0.1 | 0.1 | |
示值 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)(Hm) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1.5) |
二點(diǎn)校準(zhǔn)(Hm) | ±[(1~3%)H+1] | ±[(1~3%)H+1.5] | |
測(cè)試條 | 小曲率半徑(Hm) | 凸1.5 | 凸3 |
小面值的直徑(mm) | Φ7 | Φ5 | |
基體臨界厚度(mm) | 0.5 | 0.3 |
四、探頭選用參考表 |
基體覆蓋層 | 有機(jī)材料等非磁性覆蓋層(如:漆料、涂料塑料、搪瓷和陽(yáng)極化處理等) | 非磁性的有色金屬覆蓋層如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等 |
如鐵、鋼等磁性金屬 | F型探頭 測(cè)量范圍:0Hm~1250Hm | F型探頭 測(cè)量范圍:0Hm~1250Hm |
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬 | N型探頭 測(cè)量范圍:0Hm~1250Hm | N型探頭僅用于銅上鍍鉻 測(cè)量范圍:0Hm~1250Hm |
HC-200涂層測(cè)厚儀
021-63510720
上海市臨洮路
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